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紫外/可見光照度計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。儀器集紫外輻照度測量和照度測量兩種功能于一體，廣泛應用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路工業(yè)、農業(yè)、建筑、環(huán)境、衛(wèi)生、科研等各個領域。
■產品特點
* 光譜及角度特性經嚴格校正
* 數(shù)字液晶顯示，帶背光
* 手動/自動量程切換
* 數(shù)字輸出接口（USB冗余供電）
* 低電量提醒
* 自動延時關機
* 有數(shù)字保持
* 輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
■主要技術指標
照度：
* 測量范圍：( 0.1~199.9×103 ) lx
* 相對示值誤差：±4％
* V (λ)匹配誤差： f1 ≤6%
* 響應時間：＜1秒
* 非線性、換擋、疲勞特性等誤差：均符合*照度計標準
紫外輻照度：
* 波長范圍及峰值波長：λ：(315~400) nm；λp = 365 nm
* 輻照度測量范圍： (0.1～199.9×103) uW/m2
* 帶外區(qū)雜光： 小于0.02％
* 相對示值誤差：±10％
* 線性誤差：±1%
* 換檔誤差：±1%
* 短期不穩(wěn)定性：±1%（開機30min后）
* 疲勞特性：衰減量小于2%
* 零值誤差：滿量程的±1%
* 響應時間：1秒
